【中标】新微半导体射频可靠性设备中标结果公布

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集微网消息,10月18日,上海新微半导体有限公司(以下简称“新微半导体”)射频可靠性设备中标结果公布。

该项目中标人为天津海瑞电子科技有限公司(以下简称“海瑞电子”),涉及标的物1套砷化镓射频器件高温工作寿命老化测试系统、1套(大功率) 高功率氮化镓射频器件高温工作寿命老化测试系统、1套氮化镓射频器件高温反偏测试系统、1套氮化镓射频器件高温栅偏测试系统、1套稳态温湿度偏压测试系统和1套高加速温湿度及偏压测试系统。

海瑞电子成立于1998年, 主要从事于半导体分立器件可靠性测试设备以及老化板设计制造,能够为二极管、MOSFET、IGBT产品提供全套可靠性测试方案,包括可靠性设备的选型,可靠性方法的培训,试验流程的讲解,以及最终实验数据的分析统计。(校对/韩秀荣)

责编: 韩秀荣
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