6月15日，安徽凌光红外LUXET VERITAS二合一显微镜全球发布会在合肥圆满落幕。胜科、季丰、赛宝、蔚思博、平湖实验室、北测、米格七大行业主流实验室齐聚现场，共同见证了这款国产高端半导体检测设备实现重大技术突破。作为行业媒体，我们立足产业视角，见证国产装备崛起，也向全行业发出携手共进的动员号召。
长期以来，国内高端半导体电性失效分析设备市场被海外品牌垄断，高昂采购成本、漫长交付周期、滞后的售后服务，成为制约国内芯片研发、良率提升的一大阻碍。在此背景下，凌光红外深耕光学精密检测领域，凭借自主研发的面阵锁相成像技术，打造出国内首创的EMMI+OBIRCH二合一集成显微镜，一举跻身全球第五家掌握该核心技术的企业，综合性能位居全球第二，彻底填补国内技术空白，为产业链自主可控筑牢硬件根基。
这款二合一设备实现一机两用，集成两大主流失效分析功能，可精准捕捉纳安级微弱漏电、排查pA级电流异常，高效识别芯片各类隐蔽缺陷。相较于传统两台分体设备，它大幅缩减占地空间、降低采购与运维成本，简化操作流程、提升检测效率，全面适配晶圆制造、先进封装、第三代半导体等多元场景，为各大检测实验室、芯片企业提供高性价比的国产化替代方案。
凌光红外本次发布会汇聚国内顶尖第三方检测实验室，足以印证凌光红外如今强劲的品牌影响力。胜科、季丰、赛宝、蔚思博、平湖实验室、北测、米格实验室深耕半导体检测多年，是产业链中不可或缺的“芯片全科医院”，此次集体到场，既是对凌光红外技术实力的认可，也标志着国产检测设备正式获得行业主流市场的接纳。发布会上，凌光红外与季丰实验室达成战略合作，加速设备规模化落地，拉开了国产装备与本土实验室协同发展的全新序幕。
当下，半导体国产化浪潮势不可挡，高端检测设备是保障产业安全的关键一环。在此，我们向全行业发出号召：希望各大检测实验室、芯片设计、封测、制造企业主动拥抱国产新装备，给予本土创新企业更多信任与应用场景。也期待凌光红外持续坚守自主创新，不断迭代产品性能，拓展技术边界。
国产失效分析新势力已然崛起，行业同仁当凝心聚力、携手同行，以硬核科技打破海外壁垒，共同打造自主、安全、可控的半导体产业链，助力中国集成电路产业行稳致远。
