广立微:三大优势战略布局“光电融合”

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随着AI算力中心对高带宽、低功耗互连需求爆发,硅光技术已从可插拔光模块演进至共封装光学(CPO)、光互连(OIO)架构,单通道速率向200G及更高跨越,集成度不断提升,主流晶圆厂也推出硅光工艺平台。

然而,广立微认为,硅光产业仍存在两大核心痛点。

首先,生态系统尚未成熟,光芯片设计与制造、检测环节脱节,缺乏制造可行性和检测良率的有效反馈机制,量产级检测方法、缺陷识别标准、专用测试设备体系不完善,导致从首次流片到稳定量产需多次迭代,时间和成本增加。

其次,光芯片与电芯片设计分离,难以实现协同优化,传统流程中光路和电路由不同团队用不同工具独立设计,在CPO/OIO场景下光与电耦合问题突出,分离式设计流程无法早期评估相互影响,易导致项目延期或失败,光电协同设计(EPDA)工具和统一数据模型需求迫切。

对此,广立微与LUCEDA联手,针对上述痛点聚焦光电融合场景需求,解决工具链破碎问题;将光、电、热引入光电系统级设计和优化,应对CPO场景下的系统设计挑战;致力于构建“设计—制造—测试—数据”新底座,使设计感知制造,助力硅光实现规模化量产。

换句话说,在战略层面,广立微通过收购LUCEDA布局硅光芯片设计自动化(PDA)赛道,契合AI算力与CPO产业趋势,以及强化了“光电融合”的战略新布局。此外,公司近期拟收购子公司亿瑞芯剩余股权以实现全资控股,旨在完善EDA全链条布局,进一步强化业务协同。

作为领先的EDA软件、PDA软件与晶圆级电性测试设备供应商,广立微聚焦芯片成品率提升与电性测试快速监控业务,同时布局光子芯片设计技术,是国内外多家大型集成电路企业的重要合作伙伴。公司通过提供EDA软件、PDA软件、电路IP、WAT测试设备及成品率提升全流程解决方案,贯穿集成电路设计至量产全周期,助力提升芯片性能、成品率与稳定性,成功案例覆盖多个集成电路先进工艺节点。

在硅光领域,广立微的优势主要体现在三方面:

一是Luceda的先发优势与前瞻技术积累,其系列产品实现从器件设计、链路仿真到版图生成的全流程自动化,支持硅光、氮化硅、磷化铟、薄膜铌酸锂等多种材料体系,且内置与其他EDA/PDA工具的深度对接接口,为光电协同设计奠定基础;

二是全流程协同能力,LUCEDA与广立微整合后,将打通设计工具、晶圆级测试与良率数据分析,形成“设计-制造-测试”闭环,有助于缩短流片迭代周期;

三是软硬结合的独特壁垒,在优化软件工具的同时布局硅光测试硬件设备,依托电芯片测试领域积累的能力研发针对硅光的测试设备,软件与硬件相互赋能,提供更优的设计到量产一体化方案。

目前,AI技术正全面驱动EDA工具迈入智能化新阶段,通过生成式设计、自动化验证、算力智能优化等关键突破,压缩芯片设计周期、降低研发成本、提升工程效率。同时,新能源汽车、航空航天等新应用场景驱动对高性能芯片的需求,倒逼EDA工具向高端化、系统级分析演进求。

针对这一变革趋势,广立微已将AI技术融合确立为核心战略,并推出系列AI原生工具。其中核心包括INF-AI半导体机器学习平台,含ADC自动缺陷分类、WPA晶圆图案分析等,覆盖智能制造全场景;DE-iCASE智能诊断系统,实现缺陷自动溯源;SemiMind半导体大模型平台已成功接入DE-G和INF-AI,实现知识库驱动的智能问答与根因分析;SemiClaw数字员工平台度适配半导体业务场景,具备任务理解、自主执行、主动汇报等能力。另有QuickRoot、iMetrology、INF-TPC等,覆盖良率提升、设备预警与智能量测等场景,全方位赋能良率提升与缺陷溯源。

基于有力的战略推进、产品布局和业务技术进展,广立微取得了不俗的经营业绩,2025年营业收入达到7.35亿元,同比增长34.40%,实现收入连续增长同时,创下历史最好业绩。其中,软件开发及授权业务营收同比增长75.13%,占比从2024年的29.04%提升至37.84%,业务结构持续优化。此外,公司2025年实现归母净利润8868.80万元,同比增长10.49%,盈利能力持续改善。

发展至今,广立微已构建“EDA软件+测试设备+大数据分析”三位一体闭环,DE-G、DE-YMS平台与WAT/WLR/WLBI设备深度联动,AI大模型SemiMind赋能QuickRoot、iMetrology等工具,实现设计-制造-测试全链路良率优化,并致力于持续深化AI融合,驱动工具与平台智能化升级,为长期增长注入新动能。

值得提及的是,被誉为中国半导体产业“风向标”的集微大会将于5月27日至29日在上海举办,聚焦AI赋能、端侧AI、先进封装、EDA/IP、存储及产业投资等前沿领域,云集众多上市公司全景展示核心技术实力,汇聚全球资源,共筑产业新生态。

作为大会核心论坛之一,“EDA IP 工业软件”论坛作为将于5月29日启幕。届时,广立微技术市场总监张克非将带来名为“良率提升EDA和IP助力先进工艺DTCO”的主题演讲,针对先进制程发展趋势、痛点及EDA、IP的融合应用,详解设计工艺协同优化落地路径。

责编: 张轶群
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