1.中科飞测“检测设备和检测方法”专利获授权
2.芯联集成“功率半导体器件及其制备方法”专利获授权
3.荣耀“图像处理方法、电子设备、存储介质及芯片系统”专利获授权
4.深信服“一种向系统分发数据的方法、数据处理方法及相关装置”专利公布
5.基合半导体“按键检测系统、设备、方法及存储介质”专利获授权
1.中科飞测“检测设备和检测方法”专利获授权
天眼查显示，深圳中科飞测科技股份有限公司近日取得一项名为“检测设备和检测方法”的专利，授权公告号为CN114234835B，授权公告日为2025年3月14日，申请日为2020年9月9日。
本发明实施例提供一种检测设备和检测方法，用于进行扫描检测，所述检测设备包括：照明光源，用于提供照明光；物镜，用于使所述照明光投射至检测面，还用于对检测面成像，所述物镜的光轴在所述检测面的投影为检测点；聚焦装置，用于在所述检测面上确定测量点，所述测量点相对于所述检测点沿扫描方向具有一偏移量；还用于根据测量点对应的检测面位置，调整物镜进行聚焦；探测装置，用于探测物镜收集的所述照明光。本发明实施例能优化聚焦性能，提高成像质量。
2.芯联集成“功率半导体器件及其制备方法”专利获授权
天眼查显示，芯联集成电路制造股份有限公司近日取得一项名为“功率半导体器件及其制备方法”的专利，授权公告号为CN119050137B，授权公告日为2025年3月14日，申请日为2024年10月30日。
本申请涉及半导体技术领域，具体涉及一种功率半导体器件及其制备方法，其中，功率半导体器件包括：半导体材料层，其内包括第一掺杂区和漂移区；多个栅极沟槽，从上表面延伸穿过第一掺杂区至漂移区内，至少一栅极沟槽内设置有栅极；第一掺杂区包括第一导电类型基区和第一导电类型可控区；第二导电类型发射区，位于第一导电类型基区的表层；邻接布置的第一导电类型掺杂区和第二导电类型掺杂区，位于第一导电类型可控区内和/或位于所述第一导电类型可控区上；第一导电类型掺杂区与第一导电类型基区和第二导电类型发射区共同连接至发射极金属层，第二导电类型掺杂区和栅极共同连接至栅极金属层；如此，降低了EMI噪声，同时避免载流子大量流失。
3.荣耀“图像处理方法、电子设备、存储介质及芯片系统”专利获授权
天眼查显示，荣耀终端股份有限公司日取得一项名为“图像处理方法、电子设备、存储介质及芯片系统”的专利，授权公告号为CN118741298B，授权公告日为2025年3月14日，申请日为2024年8月15日。
本申请实施例提供的图像处理方法、电子设备、存储介质及芯片系统，涉及终端技术领域。方法包括：可以统计各个检测算法的执行情况、各个检测算法所配置的优先级、各个检测算法所配置的动态可变帧率，以及电子设备的运行状态等，综合决策检测算法的执行。这样，电子设备在执行各个检测算法时，可以减少调用硬件资源时产生冲突的情况，提升图像预览的流畅性，使得图像预览场景中，电子设备的界面能够均匀连续的显示图像，画面连续且无卡顿，从而提升用户体验。
4.深信服“一种向系统分发数据的方法、数据处理方法及相关装置”专利公布
天眼查显示，深信服科技股份有限公司“一种向系统分发数据的方法、数据处理方法及相关装置”专利公布，申请公布日为2025年3月14日，申请公布号为CN119621718A。
本申请实施例公开了一种向系统分发数据的方法、数据处理方法及相关装置，用于实现高效快速写入。本申请实施例，应用于客户端，方法包括：获得包含多条源数据的数据流，其中每条所述源数据具有唯一标识；获得分布式数据库系统所包括的多个表节点设备中每个所述表节点设备的唯一标识；根据每条所述源数据的唯一标识以及每个所述表节点设备的唯一标识，在所述多个表节点设备中确定每条所述源数据分别各自对应的目标表节点设备；其中每条所述源数据的唯一标识映射且仅映射为所述源数据对应的目标表节点设备的唯一标识；将对应相同所述目标表节点设备的所述源数据组为同一数据分流，并将所述数据分流分发至所述数据分流对应的所述目标表节点设备。
5.基合半导体“按键检测系统、设备、方法及存储介质”专利获授权
天眼查显示，基合半导体（宁波）有限公司近日取得一项名为“按键检测系统、设备、方法及存储介质”的专利，授权公告号为CN118764034B，授权公告日为2025年3月14日，申请日为2024年9月3日。
本申请实施例涉及按键技术领域，公开了一种按键检测系统、设备、方法及存储介质，本申请的按键检测系统包括：按键、驱动电路、检测电路、处理单元；按键包括基座和运动组件；运动组件贯穿基座的顶面，运动组件垂直顶面往复运动；运动组件包括芯轴、与芯轴位置相对固定的导体板；基座包括与底座、与底座相对固定的主极板和副极板，导体板分别与主极板和副极板相对设置；副极板、导体板以及主极板形成目标电容；在芯轴往复运动的情况下，目标电容的电容信号发生变化；驱动电路连接副极板，检测电路连接主极板；驱动电路驱动副极板工作，检测电路检测目标电容；处理单元连接检测电路，根据目标电容确定按键的位移量。提高按键位移量检测的准确性。
