据天眼查显示，通富微电子股份有限公司 “半导体测试系统的控制方法及半导体测试系统”专利公布，申请公布日为2024年9月17日，申请公布号为CN118655433A。
本公开涉及半导体测试领域，提供一种半导体测试系统的控制方法及半导体测试系统，测试系统包括通讯连接的测试设备和搬运设备，方法包括：测试设备通过扫描测试工单生成测试程序调用指令和控制参数调用请求指令，将二者分别发至测试程序服务器和搬运设备，接收测试程序服务器基于测试程序调用指令发送的测试程序；搬运设备将基于控制参数调用请求指令生成的控制参数调用指令发至搬运设备参数服务器，接收搬运设备参数服务器基于该指令发送的设备控制参数；测试设备基于测试程序对测试工单包括的半导体器件进行测试，搬运设备基于设备控制参数对半导体器件进行搬运。本公开可消除测试程序与搬运设备控制参数不匹配的风险，提高测试系统工作效率。
