芯华章“定位验证错误的方法、电子设备和存储介质”专利获授权

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天眼查显示,芯华章科技股份有限公司近日取得一项名为“定位验证错误的方法、电子设备和存储介质”的专利,授权公告号为CN115510782B,授权公告日为2024年4月26日,申请日为2022年8月31日。

本申请提供一种在逻辑系统设计中定位验证错误的方法,包括:接收所述逻辑系统设计在验证环境中产生的多个验证错误,所述多个验证错误包括多个第一验证错误和第二验证错误;在所述多个验证错误中,确定多个第一验证错误以及与所述多个第一验证错误对应的多个第一错误位置之间的映射关系;基于所述逻辑系统设计、所述验证环境以及所述映射关系生成所述错误定位模型;以及使用所述错误定位模型确定第二验证错误的第二错误位置。

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