紫光同芯“一种芯片测试系统和测试方法”专利公布

天眼查显示，紫光同芯微电子有限公司“一种芯片测试系统和测试方法”专利公布，申请公布日为11月10日，申请公布号为CN117031256A。

图片来源：天眼查

专利摘要显示，本申请提供一种芯片测试系统和测试方法，该系统包括：测试机台，测试向量转换接口模块与测试引脚连接，用于获取测试向量；根据译码数据确定测试模式、测试命令、测试地址和测试数据，并输入嵌入式测试模块；将测试模式输入数模信号选择器模块；嵌入式测试模块包括多个寄存器，数模信号选择器与测试向量转换接口模块连接，用于输出数模控制信号到模拟模块；模拟模块与数模信号选择器连接，用于获取数模控制信号进行芯片测试。通过测试向量转换接口模块实现对测试向量的译码，选择不同的测试模式，无需提供多个测试引脚对应不同的测试模式，节约成本。且将多个寄存器集成在嵌入式测试模块中，可以方便不同模式下的芯片测试调用，提高芯片测试效率。（校对/刘沁宇）