飞恩微“芯片粘接质量检验方法、装置、设备及存储介质”专利获授权

来源:爱集微 #飞恩微#
5582

天眼查显示,武汉飞恩微电子有限公司近日取得一项名为“芯片粘接质量检验方法、装置、设备及存储介质”的专利,授权公告号为CN113506758B,授权公告日为2024年8月9日,申请日为2021年6月30日。

本发明属于芯片粘接技术领域,公开了一种芯片粘接质量检验方法、装置、设备及存储介质。该方法包括:获取胶水外观图像信息;根据胶水外观图像信息得到胶水高度信息;在胶水高度信息满足贴片加工条件时,对芯片进行贴片加工;在贴片加工完成后,获取芯片的芯片高度信息;若芯片高度信息满足预设合格条件,则判定芯片粘接质量合格。通过上述方式,获取胶水外观图像信息检验胶水高度是否达标,当胶水高度合格时进行芯片贴片加工,加工完成后再对芯片进行高度检测,以判断加工后的芯片是否翘曲,当加工后的芯片的翘曲范围在合格范围内时判定芯片加工合格,实现了在芯片的贴片加工时实时监测芯片的粘接质量,提高了芯片粘接加工质量检测的效率和准确性。

责编: 赵碧莹
来源:爱集微 #飞恩微#
THE END

*此内容为集微网原创,著作权归集微网所有,爱集微,爱原创

关闭
加载

PDF 加载中...