力芯微“基于FPGA的串入并出逻辑电路高速测试装置”专利获授权

作者：爱集微 05-16 10:42

来源：爱集微 #力芯微#

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天眼查显示，无锡力芯微电子股份有限公司近日取得一项名为“基于FPGA的串入并出逻辑电路高速测试装置”的专利，授权公告号为CN220913289U，授权公告日为2024年5月7日，申请日为2023年8月31日。

本实用新型涉及逻辑电路测试技术领域，具体说是基于FPGA的串入并出逻辑电路高速测试装置。它的特点是包括电源模块、MCU模块、FPGA单元和高速比较器阵列。电源模块与MCU模块、FPGA单元和高速比较器阵列适配连接。MCU模块与FPGA单元适配连接，FPGA单元与高速比较器阵列适配连接，高速比较器阵列与FPGA单元适配连接。MCU模块用于向FPGA单元发送串行测试信号、从FPGA单元中读取测试数据，并将测试数据传递给分选机。该测试装置可自动化测试，测试成本低，测试产能高。