华虹宏力“一种芯片数据易失性的测试方法”专利公布

集微网消息，天眼查显示，上海华虹宏力半导体制造有限公司“一种芯片数据易失性的测试方法”专利公布，申请公布日为5月30日，申请公布号为CN116189752A。

图片来源：天眼查

专利摘要显示，本发明提供一种芯片数据易失性的测试方法，包括对芯片配置棋盘格背景或配置反棋盘格背景的同时配置Bootloader背景，使得棋盘格背景或反棋盘格背景与Bootloader背景结合成为一个全新的背景，该背景极大地简化了测试步骤，避免出错，保证flash区域的质量和可靠性，可以满足测试覆盖面，又优化了测试流程，在需要复测时，无需从头开始进行重测，使得其无需切换背景，仅需要对出现测试错误的步骤进行重测即可，节约了省略步骤测试花费的时间。（校对/魏健）